Обзор
РЭМ можно использовать для характеристики размера, морфологии и химического состава краски, грунта и любых других частиц, имеющих отношение к строительным материалам.
Солнечная батарея
РЭМ позволяет получать ценную информацию о микроструктуре поверхностей разных слоёв солнечных батарей, измерять их толщину и размеры элементов топологии. Эти размеры, как правило, имеют микронный масштаб, поэтому исследовать их с помощью обычного оптического микроскопа невозможно. При исследовании солнечных элементов весьма полезно применять столик с наклоном образца. Наклон на 45 градусов даёт весьма ценную дополнительную информацию о поверхности, как показано ниже
Рекомендуемое оборудование
EM-30AX Plus | EM-30AX | EM-30 |
EM-30 Plus | CX-200TM | CX-200TA |